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簡要描述：半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器的典型應用：適用于電子元器件的溫度控制需求。 在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度（-45℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。
產品型號：TES-4525廠商性質：生產廠家更新時間：2025-01-05訪 問 量：786| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,電子/電池,制藥/生物制藥 |
半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器
主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。
半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器
無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業(yè)測試所推出的，那么，這類芯片高低溫測試機適用于那些行業(yè)呢？
經過無錫冠亞的努力，其開發(fā)生產的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數(shù)測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數(shù)采用300uS脈沖測試，并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。
